Průlomový mikroskop umožní výrobu nové generace čipů

Helios G4 HX RIGHT

Helios G4 HX RIGHT

grafit 1keV grafit 1keV Helios G4

Přístroj FEI HeliosTM G4, vyráběný americkou společností Thermo Fisher Scientific v technologickém centru na Černovických terasách, přináší hned několik zásadní novinek, na které je zažádáno o patentovou ochranu. Pro materiálový výzkum a polovodičový průmysl je průlomem schopnost přístroje vytvářet ultratenké lamely z přesně definovaných oblastí až do tloušťky 7 nm.

Takové lamely jsou nezbytné pro analýzu na atomové úrovni v transmisním elektronovém mikroskopu. Vyrobit tak tenký a nepoškozený vzorek vyžaduje maximální, dosud technicky nezvládnutelnou šetrnost.

Naprosto zásadní je zvláště pro výrobce čipů a elektroniky také rychlost, s jakou umí přístroj tenkou lamelu vytvořit. Jen v elektronickém průmyslu jich jeden výrobce potřebuje stovky tisíc za rok a nově je může vyrábět až s 25% úsporou času. Mimo to umožňuje novinka také mnohem komfortnější manipulaci se vzorkem, automatizované ovládání, čímž klade menší nároky na obsluhu přístroje a minimalizuje lidskou chybu.

Kontakt:

e-mail: marketa.jankova@fei.com

ČTK ke zprávě vydává obrazovou přílohu, která je k dispozici na adrese http://www.protext.cz

Klíčová slova ČR-elektronika-věda-firma-FEI

Oblast
Praha, Česká republika (ce)

Kategorie
IT, telekomunikace
Auto-moto, doprava a stroje
Věda, vzdělávání a školství

ZASÍLÁNÍ ZPRÁV
Přihlásit k odběru

Upozornění:
Materiály označené značkou Protext nejsou součástí zpravodajského servisu ČTK a nelze je publikovat pod její značkou. Jde o komerční sdělení zadavatele, který je ve zprávě označen a který za ně nese plnou odpovědnost.